東莞市源泰通測試技術(shù)有限公司
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用TestStand構(gòu)建通訊產(chǎn)品并行測試平臺
應(yīng)用方案:利用NI TestStand 模塊化、易用性的特點(diǎn),再借助PXI總線的的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)來構(gòu)筑通訊產(chǎn)品單板并行測試平臺使用的產(chǎn)品:Measurement Studio、Teststand2.01
介紹提高測試效率進(jìn)而提高測試設(shè)備的使用性是當(dāng)前測試儀器發(fā)展和設(shè)計的研究前沿。本文分析了利用測試管理環(huán)境TestStand 2.0功能強(qiáng)大的內(nèi)嵌式同步工具用來規(guī)劃和管理并行測試系統(tǒng),從而達(dá)到測試量和設(shè)備利用率之間的最佳平衡的實(shí)現(xiàn)方法,同時利用TestStand API定制并行測試用戶界面,建立了一個并行測試平臺,將其運(yùn)用于通訊產(chǎn)品測試領(lǐng)域。
TestStand
National Instruments公司的TestStand是一種可立即執(zhí)行的測試管理環(huán)境,用于組織、控制和執(zhí)行自動化模型建立、認(rèn)證和工廠測試。TestStand的功能完全由客戶定義。為滿足特定需求,用戶可自行對其進(jìn)行功能修改和改進(jìn),例如定義操作界面,報告生成格式,或根據(jù)需要定義執(zhí)行順序等。它建立在高速、多線程執(zhí)行引擎基礎(chǔ)上,TestStand的性能可滿足最嚴(yán)格的測試吞吐量要求。TestStand 的并行測試能力可讓用戶運(yùn)行批測試(即測量一種PCB)或異步測試(即同時對一種被測器件測量不同的功能)。線程優(yōu)先功能使處理能力得到優(yōu)化,
并且同時執(zhí)行多種過程。其內(nèi)建項(xiàng)目管理工具可使編程人員增加生產(chǎn)率。
通訊產(chǎn)品具有單板數(shù)量多,功能測試點(diǎn)也相對較多的特點(diǎn)。利用TestStand 多線程的特性構(gòu)筑并行測試平臺,將明顯提高測試效率。TestStand的同步機(jī)制TestStand的本身的同步機(jī)制以及TestStand 所有變量和屬性是線程安全的這一特性使得利用它來實(shí)現(xiàn)多線程并行測試提供了可能性。 TestStand的同步對象有: Lock: 保證資源的獨(dú)占; Semaphore:保證資源被有限制(有限個線程)享用; Rendezvous: 用來保證多個線程互相等待以到達(dá)同一個地點(diǎn); Queue:用來將數(shù)據(jù)從一個線程傳遞到下一個要處理該數(shù)據(jù)的線程; Notification:用來通知一個或多個線程某個特定的事件發(fā)生或條件滿足; Wait:等待線程或執(zhí)行完成,等待時間消逝; Batch:批次; Thread Priolity:利用它,開發(fā)人員能將正在執(zhí)行的線程的優(yōu)先級設(shè)置到共7個不同的級別。ComapactPCI CompactPCI是一種基于PCI總線的小巧而堅固的高性能總線技術(shù)。1994年P(guān)ICMG(PCI工業(yè)計算機(jī)制造商組織)提出了CompactPCI技術(shù),該技術(shù)是嵌入式應(yīng)用場合的理想選擇。CompactPCI的三大核心技術(shù):PCI局部總線,歐式插卡機(jī)械結(jié)構(gòu)和氣密式針孔接頭。因?yàn)镃ompactPCI具有極高的帶寬,其總線特別適用于高速數(shù)據(jù)通訊的應(yīng)用。相對于其它通用測試驗(yàn)平臺而言,CompactPCI平臺可靠性更高、而且具有熱插拔、熱切換、多處理器能力。因此,為了滿足并行測試資源的需求,我們在系統(tǒng)構(gòu)建中采用了CompactPCI平臺。CPCI平臺及其擴(kuò)展功能卡給被測系統(tǒng)提供測試環(huán)境。目前,我們的擴(kuò)展功能模塊包括:數(shù)字IO模塊、時鐘模塊、通訊模塊、音頻模塊、總線接口模塊、GPIB接口模塊、開關(guān)模塊等。這些功能模塊卡提供了被測系統(tǒng)在電平,時鐘,通訊,接口等各方面需要的資源,為TestStand測試并行管理環(huán)境的應(yīng)用奠定了基礎(chǔ)。
系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)
充分利用TestStand測試管理環(huán)境的靈活性,我們并行測試平臺的總體結(jié)構(gòu)如下:
測試界面TestStand 自帶了四個peratorInterface??紤]到通訊產(chǎn)品并行測試的特殊性以及TestStand 的開放性,我們自己在VC++6.0環(huán)境下定制了一個支持多塊單板并行測試的測試界面。調(diào)用TestStand 引擎,打開TestStand生成的測試序列文件。序列文件執(zhí)行時,通過調(diào)用相應(yīng)的TestStand API實(shí)現(xiàn)對測試序列的控制如開始,中斷,停止等操作。用戶可以通過用戶界面,實(shí)現(xiàn)對測
試序列中某測試項(xiàng)目是否測試進(jìn)行定制。用戶還可以設(shè)置并行測試的單板數(shù)量。測試過程中,測試界面將單板測試的各測試項(xiàng)目的測試情況實(shí)時報告。測試完成以后,軟件將各單板的測試報告以網(wǎng)頁的形式顯示給用戶。當(dāng)被測單板測試失敗時,將進(jìn)行準(zhǔn)確的故障定位,以方便對被測單板的維修和處理??紤]到操作方便等原因,我們通過調(diào)用TestStand API ,將TestStand 的用戶管理模塊以及報告文件格式、路徑設(shè)置等功能也集成到了測試界面中。測試序列文件測試序列文件是整個系統(tǒng)結(jié)構(gòu)中處于核心地位。它于TestStand 的SEQEditor環(huán)境下開發(fā)。是實(shí)現(xiàn)并行測試策略的關(guān)鍵所在,也是聯(lián)系測試界面和測試動態(tài)連接庫的橋梁。相對于同一種單板,對應(yīng)于一個測試序列。我們在單板的測試序列中,用Thread Priolity對象來保證單板測試序列的運(yùn)行優(yōu)先級別。在多塊單板共享一種硬件資源的時候,我們采用了LOCK對象來保證同一時刻對資源的獨(dú)占性。這樣,當(dāng)有訪問資源沖突發(fā)生時,測試策略保證并行運(yùn)行的測試序列分時占用硬件資源。我們用Semaphore對象來同步并行運(yùn)行的多個測試線程。在各個線程之間,我們還利用了換各執(zhí)行線程之間的信息。這樣,即使有多個線程實(shí)例在運(yùn)行,仍然可以彼此交換測試信息。測試動態(tài)鏈接庫所有單板測試項(xiàng)目最終測試的實(shí)現(xiàn)是由測試序列調(diào)用的動態(tài)連接庫的導(dǎo)出函數(shù)來實(shí)現(xiàn)的。事實(shí)上,TestStand與所有主流測試編程環(huán)境兼容, 如NILabVIEW,LabWindows/CVI,Measurement Studio組件,微軟Visual Basic和Visual C++等,TestStand能調(diào)用任何編譯過的動態(tài)鏈接庫(DLLs),ActiveX自動化服務(wù)器,.exe運(yùn)行程序。這樣,可以將測試項(xiàng)目模塊化,多次調(diào)用。在我們的通訊產(chǎn)品單板并行測試平臺中,我們采用的動態(tài)鏈接庫有用CVI下開發(fā)出來的,也有在Visual C++平臺下開發(fā)的。這樣,各模塊的開發(fā)人員可以自由選擇最熟悉的開發(fā)平臺而不增加最后集成的難度。測試流程整個并行測試系統(tǒng)的測試流程如圖三所示。測試界面實(shí)時檢測共有n塊單板在位,并顯示出來。開始測試時,n個執(zhí)行線程同時啟動,獲得相關(guān)資源后開始功能測試。當(dāng)n個線程都結(jié)束后,系統(tǒng)將測試結(jié)果送入數(shù)據(jù)庫。
結(jié)論隨著計算機(jī)技術(shù)、大規(guī)模集成電路技術(shù)和通訊技術(shù)的飛速發(fā)展,測試儀器技術(shù)領(lǐng)域發(fā)生了巨大的變化,虛擬測試儀器平臺也進(jìn)入了新的發(fā)展階段。美國國家儀器公司(National Instruments)推出了測試管理環(huán)境TestStand。為了提高測試效率,我們基于TestStand構(gòu)建了一個并行測試平臺,它具有以下優(yōu)點(diǎn): 1)開放性:利用通用硬件平臺構(gòu)建虛擬儀器系統(tǒng)具有開放性,便于系統(tǒng)的升級和更新。 2)易用性:豐富的軟件資源和良好的人機(jī)交互圖文界面使得測試系統(tǒng)非常易于使用。 3)性能價格比高:相同的性能條件下開發(fā)費(fèi)用和維護(hù)升級價格相對比較便宜。4)測試效率高: 基于TestStand 2.0功能強(qiáng)大的內(nèi)嵌式同步工具,我們可以在資源有限的情況下,能運(yùn)行一個測試序列的多個運(yùn)行線程實(shí)例,成倍地提高了測試效率。
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